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可靠经济的LTE手机射频信道衰落测试解决方案
发布时间:2022-10-09 02:30
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本文摘要:在任何实际移动通信网络中,基站与手机或其他用户设备(UE)之间传输的信号,都会不存在相当严重的信号质量上升问题。这是因为,信号传输有无数条路径,每条路径有有所不同的波动值和相位差,接管的信号是这些多径信号的总和。这些多径信号大力的和破坏性的有所不同人组不会产生衰败(fading),信号路径质量上升能用Rayleigh系数回应。 随着全球蜂窝通信网络运营商逐步使用LTE,符合所有LTE拒绝的市场需求也在快速增长,其中还包括衰败特性。

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在任何实际移动通信网络中,基站与手机或其他用户设备(UE)之间传输的信号,都会不存在相当严重的信号质量上升问题。这是因为,信号传输有无数条路径,每条路径有有所不同的波动值和相位差,接管的信号是这些多径信号的总和。这些多径信号大力的和破坏性的有所不同人组不会产生衰败(fading),信号路径质量上升能用Rayleigh系数回应。  随着全球蜂窝通信网络运营商逐步使用LTE,符合所有LTE拒绝的市场需求也在快速增长,其中还包括衰败特性。

第三代合作伙伴计划(3GPP)在其TS36.521-1标准中规定了衰败的技术规格,借以测量LTE手机的衰败特性。  传统衰败特性测试方法使用外部衰败模拟器和噪声源,通过常规射频测试设备改动信号。这种设备明显减少了整个测试系统的成本,并且必须额外的软件掌控并协商各个仪器。本文将讲解一种创意的全数字衰败仿真方法,这种方法可很大增加减少贵重设备所产生的成本,同时提升测量精度并延长测试时间。

  模拟信号衰败  如图1右图,实际系统环境下,发射机与接收机之间不存在无数条路径。似乎,不有可能仿真所有路径,但为了符合测试目的,那些损耗显著小于最佳路径且对接管信号质量导致负面影响的路径将,我们将其忽视。

某种程度,延后较长的路径,也不会产生很高损耗,不必须展开仿真。根据具备相近延后的一组路径,以及多普勒频移效果的统计资料可更进一步修改仿真。而AeroflexEOS基带信号的射频(RF)切换,或许是最简单的一种方法。  如图2(a)右图,射频信道建模一般使用两种仪器展开测试,即衰败模拟器和加性高斯红噪声(AWGN)源。

衰败模拟器仿效基站与用户设备之间随时间变化的射频路径,AWGN信号源仿效其他小区或用户产生阻碍。    除可选设备产生的成本外,这种传统方法还不存在以下局限:  信号电平不大位,必须十分细心的校准。  外部组件产生插手损耗和延后。

  有所不同测试必须手动转变相连。  独立国家的衰败RF信道数量受限无法符合硬转换(UMTS)、天线冗余和MIMO(多路输出/多路输入)环境的测试拒绝。

  仿真组件减少信号质量。  无法或不有可能展开准确的反复测试。

    基带衰败仿真  相比之下,内置衰败模拟器选件的Aeroflex7100射频测试仪使用的测试方法如图2(b)右图。7100测试平台(如图3右图)衰败仿真功能符合或高于所有3GPP拒绝,并且可以根据LTE用户设备空前灵活性地分配小区和衰败路径,不必须手动重新配置。

内置衰败模拟器的7100测试仪可以展开原始的反复测试,还包括仿真动态环境,可信准确地测试MIMO系统。    7100平台中的每个基带模块是一种Micro-TCA卡,所含多种标准化处理器(GPP)、DSP、FPGA和双向高速数字链路。  基带模块分解一个或大量小区输入的基带样本,可以是SISO(单路输出,单路输入),也可以是MIMO。AWGN在信号抵达RF模块之前重新加入信号中,仿真其他阻碍小区。

这是一种仅有数字解决方案:减少衰败和噪声不用使用任何新的仿真器件。这样可以避免校准问题,传输到仿真器件的信号可以几乎器重。


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